FAB名词解释

Burn in預燒試驗 「預燒」(Burn in)為可靠性測試的一種，旨在檢驗出那些在使用初期即損壞的產品，而在出貨前予以剔除。 預壞試驗的作法，乃是將元件(產品)置於高溫的環境下，加上指定的正向或反

阅读(539) 评论(0) 2008-09-01 16:25

 新世纪的半导体光刻技术集锦

从第一个晶体管问世算起，半导体技术的发展已有多半个世纪了，现在它仍保持着强劲的发展态势，继续遵循Moore定律即芯片集成度18个月翻一番，每三年器件尺寸缩小0.7倍的速度发展现在片径已达300mm，D

阅读(233) 评论(0) 2008-09-01 16:23

 半导体术语

A.M.U 原子质量数 ADI After develop inspection显影后检视 AEI 蚀科后检查 Alignment 排成一直线，对平 Alloy 融合：电压与电流成线性关系，降低接触的

阅读(1111) 评论(0) 2008-09-01 16:21

 IC可靠度测试和失效分析方案

一、IC可靠度测试 1.可靠度测试的由来 可靠度测试，顾名思义，就是测试产品的可靠程度。它与品质既有区别，又有联系。品质就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎SPEC的要求，是否符合各项性能

阅读(1760) 评论(1) 2008-09-01 16:19

 probe station

一、 機台採用寬大厚重之基座，Base厚度達7cm，為一非常穩固Stable之設計。 二、 X-Y Stage採用huged-Knob設計，操控便利；而其Leadscrew採用美國進口Leadnut

阅读(421) 评论(0) 2008-09-01 16:14