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     FAB名词解释

    Burn in預燒試驗 「預燒」(Burn in)為可靠性測試的一種,旨在檢驗出那些在使用初期即損壞的產品,而在出貨前予以剔除。 預壞試驗的作法,乃是將元件(產品)置於高溫的環境下,加上指定的正向或反

    阅读(539) 评论(0) 2008-09-01 16:25

     新世纪的半导体光刻技术集锦

    从第一个晶体管问世算起,半导体技术的发展已有多半个世纪了,现在它仍保持着强劲的发展态势,继续遵循Moore定律即芯片集成度18个月翻一番,每三年器件尺寸缩小0.7倍的速度发展现在片径已达300mm,D

    阅读(233) 评论(0) 2008-09-01 16:23

     半导体术语

    A.M.U 原子质量数 ADI After develop inspection显影后检视 AEI 蚀科后检查 Alignment 排成一直线,对平 Alloy 融合:电压与电流成线性关系,降低接触的

    阅读(1111) 评论(0) 2008-09-01 16:21

     IC可靠度测试和失效分析方案

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    阅读(1760) 评论(1) 2008-09-01 16:19

     probe station

    一、 機台採用寬大厚重之基座,Base厚度達7cm,為一非常穩固Stable之設計。 二、 X-Y Stage採用huged-Knob設計,操控便利;而其Leadscrew採用美國進口Leadnut

    阅读(421) 评论(0) 2008-09-01 16:14

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